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dc.contributor.advisorGutiérrez Serrano, José Rubén ORCID
dc.contributor.authorCereceda Moris, Eneko ORCID
dc.contributor.otherTecnología Electrónica;;Teknologia Elektronikoaes
dc.date.accessioned2016-01-14T14:31:18Z
dc.date.available2016-01-14T14:31:18Z
dc.date.issued2015-11-06
dc.date.submitted2015-11-06
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10810/16702
dc.description164 p.es
dc.description.abstractSiendo la oblea de silicio cristalino uno de los elementos más costosos de los paneles fotovoltaicos, el objetivo de esta tesis es comprender el proceso de fractura de las obleas de silicio cristalino en las líneas de fabricación de células solares fotovoltaicas y establecer las acciones necesarias para reducir el índice de roturas en estas líneas.Para ello, se ha estudiado el proceso de la fractura frágil, y se ha analizado una línea de fabricación de células solares estándar. De esta forma se han detectado, no sólo los puntos críticos donde se produce un mayor número de roturas, sino también aquellos donde se generan las grietas que posteriormente conducirán a la fractura de la oblea.Se han analizado diferentes técnicas para detectar grietas en las obleas y poder retirarlas del proceso productivo antes de que se produzca su rotura y genere costes adicionales. Por último se ha estudiado el deterioro mecánico que produce la generación de una estructura de célula de contactos posteriores en una oblea de silicio y diversas técnicas para la reducción del deterioro generadoes
dc.language.isospaes
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses
dc.subjectphotoelectric deviceses
dc.subjectdispositivos fotoeléctricoses
dc.titleDetección y análisis de grietas en sustratos de silicio cristalino originadas en líneas industriales de fabricación de células solareses
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/doctoralThesises
dc.rights.holder(c) 2015 ENEKO CERECEDA MORIS
dc.identifier.studentID335196es
dc.identifier.projectID14401es
dc.departamentoesTecnología electrónicaes_ES
dc.departamentoeuTeknologia elektronikoaes_ES


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