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dc.contributor.advisorMuñoz Ugartemendia, Jone ORCID
dc.contributor.authorBalza Carranza, Fernando
dc.contributor.otherE.T.S. INGENIERIA -BILBAO
dc.contributor.otherBILBOKO INGENIARITZA G.E.T.
dc.date.accessioned2018-10-23T15:50:30Z
dc.date.available2018-10-23T15:50:30Z
dc.date.issued2018-10-23
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10810/29225
dc.description.abstractThe use of Atomic Force Microscopy (AFM) has been a major step forward in the field of material characterization. Optical microscopy could only provide us two-dimensional images, whereas AFM brought us the next step: obtaining three-dimensional images of material topography, at a nanometric scale. Besides topography, it is also important to know about the characterization of a material. Among the modules that can be used in AFM, the PeakForce Tapping module is the one that brings us closer to this goal. This module has been recently set in the Group in Science and Engineering of Polymeric Biomaterials (ZIBIO) research group, the one the student is working with. Therefore, the objective of this project is setting up the PeakForce Tapping mode, aiming to carry out an initial run-through.es_ES
dc.description.abstractEl uso del Microscopio de Fuerzas Atómicas (Atomic Force Microscopy, AFM) ha supuesto un gran avance en el campo de la caracterización de materiales. Anteriormente, los métodos ópticos de microscopía solo permitían obtener imágenes en dos dimensiones. El AFM ha permitido dar un paso más: con él podemos conseguir imágenes tridimensionales de la topografía de un material a escala nanométrica. En un material, además de la topografía, conviene conocer también sus características mecánicas. Entre los distintos modos de los que dispone el AFM, el módulo PeakForce Tapping es aquel que mejor permite alcanzar este objetivo. Este módulo se acaba de incorporar al Grupo de Investigación en Ciencia e Ingeniería de Biomateriales Poliméricos (ZIBIO) con el que colabora el estudiante. Este proyecto pretende, por tanto, poner a punto el modo PeakForce Tapping, para utilizarlo posteriormente en el análisis de polímeros.es_ES
dc.description.abstractIndar Atomikoen Mikroskopia (AFM) aurrera pauso handia izan da materialen karakterizazio arloan. Metodo optikoek bi dimentsioko irudiak besterik ez dituzte lortzen; aldiz, AFM-ak hiru dimentsioko irudiak lortzeko gaitasuna du, materialaren topografia eskala nanometrokoan ikustea ahalbidetuz. Topografiaz gain, materialaren ezaugarri mekanikoak jakitea garrantzitsua da. AFMak dituen hainbat moduren artean, PeakForce Tapping modua da helburu hori lortzera gehien hurbiltzen gaituena. Modu hau Biomaterial Polimerikoen Zientzia eta Ingeniaritza Ikerketa taldera (ZIBIO) iritsi berri da, non ikaslea elkar lanean dabilen. Proiektu honek PeakForce Tapping modua martxan jartzea du helburu, gero polimeroen zientzian aplikatzeko asmoarekin.es_ES
dc.language.isoenges_ES
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/3.0/es/
dc.subjectAtomic Force Microscopy
dc.subjectPick Force Tapping
dc.subjectpolymer characterization
dc.subjectsetup
dc.subjectoptimization
dc.titleAtomic Force Microscopy: setting up the Peakforce Tapping and carrying out an initial run-throughes_ES
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/bachelorThesis
dc.date.updated2018-06-20T12:25:52Z
dc.language.rfc3066es
dc.rights.holderAtribución-NoComercial-CompartirIgual (cc by-nc-sa)
dc.contributor.degreeGrado en Ingeniería en Tecnología Industrial
dc.contributor.degreeIndustria Teknologiaren Ingeniaritzako Gradua
dc.identifier.gaurassign71617-767544


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