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dc.contributor.authorMatallana Fernandez, Asier ORCID
dc.contributor.authorAndreu Larrañaga, Jon ORCID
dc.contributor.authorAranzabal Santamaria, Itxaso
dc.contributor.authorLópez Senderos, Víctor
dc.contributor.authorPérez Basante, Angel Luis
dc.date.accessioned2024-04-16T18:18:02Z
dc.date.available2024-04-16T18:18:02Z
dc.date.issued2015-07-10
dc.identifier.citationSAAEI 2015: XXII Seminario Anual de Automática, Electrónica Industrial e Instrumentación, 8, 9 y 10 de julio de 2015, Zaragoza : 466-471 (2015)es_ES
dc.identifier.isbn978-84-944131-2-4
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10810/66728
dc.description.abstractLa aparición del IGBT supuso el desarrollo del semiconductor de potencia para las aplicaciones de potencia que requieren elevados valores de tensión y corriente junto a elevadas frecuencias de conmutación. Durante los últimos 30 años, con la evolución de la tecnología y los métodos de fabricación, se han ido desarrollando diversas arquitecturas de IGBTs con el objetivo de conseguir dispositivos capaces de soportar mayores potencias y temperaturas, obteniendo al mismo tiempo menores pérdidas de conducción y conmutación. En este artículo se analiza la evolución desde las arquitecturas planares y trench de los IGBTs de silicio hasta la fusión de ambas tecnologías en un mismo dispositivo analizando los rangos de tensión y corriente de cada tecnología, junto a su diseño y las características estáticas, dinámicas y térmicas que los definen.es_ES
dc.description.sponsorshipEste trabajo se ha realizado dentro de la Unidad de Investigación y Educación UFI11/16 de la UPV/EHU y con el apoyo del Gobierno Vasco a través de: las ayudas para los grupos de investigación del sistema universitario vasco IT394-10, del proyecto de investigación FUTUREGRIDS-2020 del programa ETORTEK (IE14-389), la financiación del Ministerio de Economía y Competitividad a través del proyecto de investigación DPI2014-53685-C2-2-R y a través del programa de apoyo a la formación de investigadores del Gobierno Vasco PRE_2014_1_13.es_ES
dc.language.isospaes_ES
dc.publisherSAAEIes_ES
dc.relationinfo:eu-repo/grantAgreement/MINECO/DPI2014-53685-C2-2-Res_ES
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses_ES
dc.subjectIGBTes_ES
dc.subjectcelda planares_ES
dc.subjectPTes_ES
dc.subjectNPTes_ES
dc.subjectFSes_ES
dc.subjectcelda trenches_ES
dc.subjecttrench FSes_ES
dc.subjectRC IGBTes_ES
dc.subjectcomportamiento estáticoes_ES
dc.subjectcomportamiento dinámicoes_ES
dc.subjectcomportamiento térmicoes_ES
dc.titleEstado del arte de la tecnología planar y trench de IGBTs de silicioes_ES
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjectes_ES
dc.rights.holder(c) 2015 Los autoreses_ES
dc.departamentoesTecnología electrónicaes_ES
dc.departamentoeuTeknologia elektronikoaes_ES


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