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Evidence of dopant type-inversion and other radiation damage effects of the CDF silicon detectors
(Servicio Editorial de la Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatearen Argitalpen Zerbitzua, 2011-04-01)
Se han estudiado los efectos producidos por la radiación sobre los detectores de silicio del experimento CDF, en particular el fenómeno de inversión del tipo de dopante y la evolución de las corrientes de polarización.