dc.contributor.advisor | Caballero Ortiz de Zarate, Iker | |
dc.contributor.author | Martínez Sánchez, Jon | |
dc.contributor.other | F. CIENCIA Y TECNOLOGIA | |
dc.contributor.other | ZIENTZIA ETA TEKNOLOGIA F. | |
dc.date.accessioned | 2020-01-16T17:23:45Z | |
dc.date.available | 2020-01-16T17:23:45Z | |
dc.date.issued | 2020-01-16 | |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10810/38518 | |
dc.description.abstract | [ES] En la industria de la electrónica, existe, como probablemente en todas las industrias que se
dediquen a la fabricación de un producto, una etapa de control de calidad. Lo que se hace en
ésta etapa es, básicamente, probar que los productos en la cadena de producción se fabrican
sin errores. En la gran mayoría de los casos, los fallos provocados en el producto en cuestión no
permiten su distribución comercial, y si no se mantiene una atención constante en el dicho
control de calidad, se podrían perder importantes sumas de dinero.
En el contexto del presente trabajo, el objetivo del mismo es realizar un estándar de un sistema
para test electrónico ICT, que sea fácilmente programable por el operario que se haga cargo del
mismo. Otro objetivo que también persigue este trabajo es, como su nombre indica, realizar un
sistema funcionalmente flexible, es decir, que se adapte a la mayor cantidad de sistemas a
testear posible. | |
dc.language.iso | spa | es_ES |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by/3.0/es/ | |
dc.subject | test electrónico | |
dc.subject | ICT | |
dc.title | Estandarización de interfaz para test electrónico: diseño, programación e implementación del sistema | es_ES |
dc.type | info:eu-repo/semantics/bachelorThesis | |
dc.date.updated | 2019-06-20T06:14:08Z | |
dc.language.rfc3066 | es | |
dc.rights.holder | Atribución (cc by) | |
dc.contributor.degree | Grado en Ingeniería Electrónica;;Ingeniaritza Elektronikoko Gradua | es_ES |
dc.identifier.gaurregister | 96956-729248-09 | |
dc.identifier.gaurassign | 80808-729248 | |