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dc.contributor.authorMatallana Fernandez, Asier ORCID
dc.contributor.authorAndreu Larrañaga, Jon ORCID
dc.contributor.authorGárate Añibarro, José Ignacio
dc.contributor.authorKortabarria Iparragirre, Iñigo ORCID
dc.contributor.authorRobles Pérez, Endika ORCID
dc.date.accessioned2024-04-22T16:47:07Z
dc.date.available2024-04-22T16:47:07Z
dc.date.issued2017-07-05
dc.identifier.citationXXIV Seminario Anual de Automática, Electrónica Industrial e Instrumentación (SAAEI'17), Valencia 5- 7 de julio de 2017es_ES
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10810/66846
dc.descriptionPonencia presentada a XXIV Seminario Anual de Automática, Electrónica Industrial e Instrumentación (SAAEI'17), Valencia 5- 7 de julio de 2017es_ES
dc.description.abstractLas aplicaciones de electrónica de potencia cada vez requieren mayores prestaciones en cuento a frecuencias de conmutación, tensiones de ruptura, conductividad térmica,etc. Estos nuevos requisitos cada vez son más complicados de conseguir a través de los dispositivos y materiales tradicionales como los IGBTs de silicio (Si). Por ello, es necesario recurrir a dispositivos fabricados con nuevos materiales, Wide BandGap (WBG), como son los MOSFETs de carburo de silicio (SiC). Sin embargo, estos nuevos dispositivos no pueden alcanzar las tensiones y corrientes que requieren muchas de las aplicaciones de potencia por si mismos. En caso de requerir mayores niveles de corriente es necesario paralelizarlos. La paralelización requiere el estudio completo de los elementos parásitos de los circuitos para poder minimizar los desequilibrios de corriente que se producen entre los semiconductores de potencia dispuestos en paralelo. El objetivo de este artículo es estudiar los desequilibrios de corriente que se producen en la paralelización de los SiC MOSFETs, mediante simulaciones electromagnéticas (EM model), e intentar reducirlos mediante el concepto de diseño simétrico, comprendiendo la influencia de las impedancias parásitas del circuito sobre las señales de tensión y corriente sobre los SiC MOSFETs.es_ES
dc.description.sponsorshipEste trabajo ha sido generado y patrocinado por el Departamento de Educación, Política Lingüística y Cultura del Gobierno Vasco en base a las ayudas para apoyar las actividades de grupos de investigación del sistema universitario vasco IT978-16, el programa ELKARTEK con el proyecto KT4TRANS (KK-2015/00047 y KK-2016/00061). La ayuda del Ministerio de Economía y Competitividad de España a través del proyecto DPI2014-53685-C2-2-R y los fondos FEDER. Así como, la ayuda del programa predoctoral del Gobierno Vasco PRE_2016_2_0086 y el soporte técnico y humano de IZOSGI (UPV/EHU) y fondos Europes (ERDF y ESF).es_ES
dc.language.isospaes_ES
dc.publisherSAAEIes_ES
dc.relationinfo:eu-repo/grantAgreement/MINECO/DPI2014-53685-C2-2-Res_ES
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses_ES
dc.subjectparalelizaciónes_ES
dc.subjectsimetríaes_ES
dc.subjectlayoutes_ES
dc.subjectimpedancia parásitaes_ES
dc.subjectcarburo de silicio (SiC)es_ES
dc.subjectSiC MOSFETses_ES
dc.subjectWide BandGap (WBG)es_ES
dc.subjectinductancia parásitaes_ES
dc.subjectEM modeles_ES
dc.subjectefectos no idealeses_ES
dc.subjectADS TMes_ES
dc.titleAnálisis y aplicación de simetría sobre diseños de layouts de convertidores de potencia con dispositivos SiC en paraleloes_ES
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjectes_ES
dc.rights.holder(c) 2017 Los autoreses_ES
dc.departamentoesTecnología electrónicaes_ES
dc.departamentoeuTeknologia elektronikoaes_ES


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