dc.contributor.author | Matallana Fernandez, Asier | |
dc.contributor.author | Andreu Larrañaga, Jon | |
dc.contributor.author | Gárate Añibarro, José Ignacio | |
dc.contributor.author | Kortabarria Iparragirre, Iñigo | |
dc.contributor.author | Robles Pérez, Endika | |
dc.date.accessioned | 2024-04-22T16:47:07Z | |
dc.date.available | 2024-04-22T16:47:07Z | |
dc.date.issued | 2017-07-05 | |
dc.identifier.citation | XXIV Seminario Anual de Automática, Electrónica Industrial e Instrumentación (SAAEI'17), Valencia 5- 7 de julio de 2017 | es_ES |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10810/66846 | |
dc.description | Ponencia presentada a XXIV Seminario Anual de Automática, Electrónica Industrial e Instrumentación (SAAEI'17), Valencia 5- 7 de julio de 2017 | es_ES |
dc.description.abstract | Las aplicaciones de electrónica de potencia cada vez requieren mayores prestaciones en cuento a frecuencias de conmutación, tensiones de ruptura, conductividad térmica,etc. Estos nuevos requisitos cada vez son más complicados de conseguir a través de los dispositivos y materiales tradicionales
como los IGBTs de silicio (Si). Por ello, es necesario recurrir a dispositivos fabricados con nuevos materiales, Wide BandGap (WBG), como son los MOSFETs de carburo de silicio (SiC).
Sin embargo, estos nuevos dispositivos no pueden alcanzar las tensiones y corrientes que requieren muchas de las aplicaciones de potencia por si mismos. En caso de requerir mayores niveles de
corriente es necesario paralelizarlos. La paralelización requiere el estudio completo de los elementos parásitos de los circuitos para poder minimizar los desequilibrios de corriente que se producen
entre los semiconductores de potencia dispuestos en paralelo. El objetivo de este artículo es estudiar los desequilibrios de corriente que se producen en la paralelización de los SiC MOSFETs, mediante simulaciones electromagnéticas (EM model), e intentar reducirlos mediante el concepto de diseño simétrico, comprendiendo la influencia de las impedancias parásitas del circuito sobre las señales de tensión y corriente sobre los SiC MOSFETs. | es_ES |
dc.description.sponsorship | Este trabajo ha sido generado y patrocinado por el Departamento de Educación, Política Lingüística y Cultura del Gobierno Vasco en base a las ayudas para apoyar las actividades de grupos de investigación del sistema universitario vasco IT978-16, el programa ELKARTEK con el proyecto KT4TRANS (KK-2015/00047 y KK-2016/00061). La ayuda del Ministerio de Economía y Competitividad de España a través del proyecto DPI2014-53685-C2-2-R y los fondos FEDER. Así como, la ayuda del programa predoctoral del Gobierno Vasco PRE_2016_2_0086 y el soporte técnico y humano de IZOSGI (UPV/EHU) y fondos Europes (ERDF y ESF). | es_ES |
dc.language.iso | spa | es_ES |
dc.publisher | SAAEI | es_ES |
dc.relation | info:eu-repo/grantAgreement/MINECO/DPI2014-53685-C2-2-R | es_ES |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | es_ES |
dc.subject | paralelización | es_ES |
dc.subject | simetría | es_ES |
dc.subject | layout | es_ES |
dc.subject | impedancia parásita | es_ES |
dc.subject | carburo de silicio (SiC) | es_ES |
dc.subject | SiC MOSFETs | es_ES |
dc.subject | Wide BandGap (WBG) | es_ES |
dc.subject | inductancia parásita | es_ES |
dc.subject | EM model | es_ES |
dc.subject | efectos no ideales | es_ES |
dc.subject | ADS TM | es_ES |
dc.title | Análisis y aplicación de simetría sobre diseños de layouts de convertidores de potencia con dispositivos SiC en paralelo | es_ES |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject | es_ES |
dc.rights.holder | (c) 2017 Los autores | es_ES |
dc.departamentoes | Tecnología electrónica | es_ES |
dc.departamentoeu | Teknologia elektronikoa | es_ES |