dc.contributor.author | De Marcos Arocena, Ander | |
dc.contributor.author | Matallana Fernandez, Asier | |
dc.contributor.author | Andreu Larrañaga, Jon | |
dc.contributor.author | Ugalde Olea, Unai | |
dc.contributor.author | Aretxabaleta Astoreka, Iker | |
dc.contributor.author | Dávila Peña, Asier | |
dc.date.accessioned | 2024-04-23T17:40:01Z | |
dc.date.available | 2024-04-23T17:40:01Z | |
dc.date.issued | 2021-07-07 | |
dc.identifier.citation | XXVIII Seminario Anual de Automática, Electrónica Industrial e Instrumentación (SAAEI'21), Ciudad Real 7- 9 de julio de 2021 | es_ES |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10810/66890 | |
dc.description | Ponencia presentada a XXVIII Seminario Anual de Automática, Electrónica Industrial e Instrumentación (SAAEI'21), Ciudad Real 7- 9 de julio de 2021 | es_ES |
dc.description.abstract | Los condensadores del bus DC son una parte importante de los convertidores de potencia, ya que son los elementos más críticos en cuanto a fiabilidad. En este trabajo se revisan los modos y mecanismos de fallo en los condensadores del bus DC. Además, se analizan los modelos de tiempo de vida y se detalla la metodología a seguir para la obtención de estos modelos. Por otro lado, se identifican los factores de estrés que influyen en el tiempo de vida, siendo la temperatura del hot-spot el factor dominante. | es_ES |
dc.description.sponsorship | Este trabajo ha sido generado y patrocinado por el Gobierno Vasco en base a las ayudas para apoyar las actividades de grupos de investigación del sistema universitario vasco IT978-16, el programa ELKARTEK con el proyecto ENSOL2 (KK-2020/00077). Así como, la ayuda del programa predoctoral de la UPV/EHU (PIF20-305) y el soporte técnico y humano de TDK. | es_ES |
dc.language.iso | spa | es_ES |
dc.publisher | SAAEI | es_ES |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | es_ES |
dc.subject | Bus DC | es_ES |
dc.subject | condensadores electrolíticos | es_ES |
dc.subject | condensadores de película | es_ES |
dc.subject | condensadores cerámicos | es_ES |
dc.subject | ESR | es_ES |
dc.subject | mecanismos de fallo | es_ES |
dc.subject | fiabilidad | es_ES |
dc.subject | estimación de tiempo de vida | es_ES |
dc.title | Fiabilidad y tiempo de vida de los condensadores del bus DC | es_ES |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject | es_ES |
dc.rights.holder | (c) 2021 Los autores | es_ES |
dc.departamentoes | Tecnología electrónica | es_ES |
dc.departamentoeu | Teknologia elektronikoa | es_ES |